XtalGazer^® CSD (Crystal Structure Determination) は、ICP で得られた（または既に各クライアントでお持ちの）化合物サンプルに対し、「あらゆるシチュエーションに対応した結晶構造特定」を行うサービスで、単結晶X線構造解析（SCXRD）のみならず、MicroED にも対応しています。 CSP 予測も組み合わせたウェット及びドライの両方向からの効率的評価も可能であり、得られたデータの確実性を高めます。

Workflow

MicroED

SCXRDと異なり、電子線回折を利用して結晶構造を特定する手法です。少量の微結晶で最短1日での結晶構造解析が可能で、散乱能にも優れています。

Advantage

Case Study

以下のケーススタディが、XtalPi 社ページに掲載されています。

• Determining Crystalline Component in Amorphous Solid Dispersion using MicroED in One Week
• Explore Two Case Studies on How XtalPi Leveraged MicroED to Address Different Polymorphism Challenges